DDR是什么? DDR5和DDR4的區(qū)別是什么 ？

目錄

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一. DDR標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展和 DDR5簡介

DDR是什么?

DDR內(nèi)存原理

DDR工作原理

存儲(chǔ)器分類

如何計(jì)算DDR帶寬？

SDRAM和DDR區(qū)別是什么?

DDR5和DDR4的區(qū)別

DDR發(fā)展歷程

DDR4和DDR5的性能差距?

2.1.1 速率的提升

2.1.2 電壓的降低

2.1.3 DIMM新電源架構(gòu)

2.1.4 DIMM通道架構(gòu)

2.1.5 更長的突發(fā)長度

2.1.6 更大容量的 DRAM

DDR5主要特點(diǎn)

DDR5測試方案

二. 發(fā)送端測試方法

首先來看 UI定義 - UI是啥?

眼圖測試

如何計(jì)算總體抖動(dòng)？

三、DDR5測試新方法

3.2 接收端RX測試挑戰(zhàn)

DDR、LPDDR的協(xié)議解碼測試總結(jié)

內(nèi)存(DRAM-Random Access Memory)作為當(dāng)代數(shù)字系統(tǒng)最主要的核心部件之一，從各種終端設(shè)備到核心層數(shù)據(jù)處理 和存儲(chǔ)設(shè)備，從各種消費(fèi)類電子設(shè)備到社會(huì)各行業(yè)專用設(shè)備，是各種級(jí)別的 CPU 進(jìn)行數(shù)據(jù)處理運(yùn)算和緩存的buke或缺的周轉(zhuǎn)“倉庫"，一個(gè)強(qiáng)大的核心處理單元也必須配備一個(gè)高速運(yùn)轉(zhuǎn)的寬通路的數(shù)據(jù)訪問和存儲(chǔ)單元。近 20 多年來，DRAM也快速地從 20 世紀(jì)末期的 SDRAM 發(fā)展到 21 世紀(jì) DDR RAM。在 21 世紀(jì)的qian10 年，DDR標(biāo)準(zhǔn)主要是個(gè)人信息處理終端的代表設(shè)備----PC 和個(gè)人工作站類驅(qū)動(dòng)，快速從 DDR1 演進(jìn)到 DDR3。而近 10 年來，進(jìn)入移動(dòng)互聯(lián)時(shí)代后海量數(shù)據(jù)爆發(fā)，AI 和深度學(xué)習(xí)以及 5G驅(qū)動(dòng)，在個(gè)人信息終端上基本可以勝任的 DDR4標(biāo)準(zhǔn)，明顯顯得力不從心。今天 DDR5正在昂首闊步地配合以 PCIE5.0 32Gbps 為代表的第5代高速 I/O 數(shù)據(jù)傳輸走向最終的市場化。

一. DDR標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展和 DDR5簡介

下圖展示的是內(nèi)存 RAM 20多年來的發(fā)展和信號(hào)特點(diǎn)以及設(shè)計(jì)演進(jìn)。

圖 1 DDR標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展和信號(hào)特點(diǎn)演進(jìn)

一些DDR基本概念

DDR是什么?

DDR的全拼是Double Data Rate SDRAM雙倍數(shù)據(jù)速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存, 主要用在電腦的內(nèi)存。DDR的特點(diǎn)就是走線數(shù)量多，速度快，操作復(fù)雜，給測試和分析帶來了很大的挑戰(zhàn)。

目前DDR技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到了DDR5，性能更高，功耗更低，存儲(chǔ)密度更高，芯片容量大幅提升，他的數(shù)據(jù)速率在3200-6400MT/s。

DDR本質(zhì)上不需要提高時(shí)鐘頻率就能加倍提高SDRAM的速度，它允許在時(shí)鐘的上升沿和下降沿讀出數(shù)據(jù)，因而其速度是標(biāo)準(zhǔn)SDRAM的兩倍，至于地址與控制信號(hào)則與傳統(tǒng)SDRAM相同，仍在時(shí)鐘上升沿進(jìn)行數(shù)據(jù)判斷。

DDR核心技術(shù)點(diǎn)就在于雙沿傳輸和預(yù)取Prefetch.

DDR的頻率包括核心頻率，時(shí)鐘頻率和數(shù)據(jù)傳輸頻率。核心頻率就是內(nèi)存的工作頻率；DDR1內(nèi)存的核心頻率是和時(shí)鐘頻率相同的，到了DDR2和DDR3時(shí)才有了時(shí)鐘頻率的概念，就是將核心頻率通過倍頻技術(shù)得到的一個(gè)頻率。數(shù)據(jù)傳輸頻率就是傳輸數(shù)據(jù)的頻率。

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DDR 存儲(chǔ)器概述、開發(fā)周期和挑戰(zhàn)

“由于改進(jìn)的制造工藝降低了成本，現(xiàn)在選擇的技術(shù)是 DDR SDRAM，是雙倍數(shù)據(jù)速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的縮寫。"

計(jì)算機(jī)組成

計(jì)算機(jī)組成結(jié)構(gòu) (Computer Architecture）是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的核心，它定義了計(jì)算機(jī)的基本工作原理和設(shè)計(jì)模式。計(jì)算機(jī)的組成可以分成以下3大類：中央處理器(CPU)、存儲(chǔ)器和輸入/輸出子系統(tǒng)。

中央處理器 (CPU)

CPU用于數(shù)據(jù)的運(yùn)算，在大部分的體系結(jié)合中，它有3個(gè)組成部分：算數(shù)運(yùn)算單元 (ALU)、控制單元、奇存器組。

• 控制單元 (Control Unit)：負(fù)責(zé)指揮整個(gè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的操作，解釋并執(zhí)行指令，控制其他硬件的工作。

• 算術(shù)邏輯單元 (ALU）：執(zhí)行所有算術(shù)運(yùn)算（如加減乘除）和邏輯運(yùn)算（如與、或、非等），是計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令的核心部分。

• 寄存器 (Registers)：這是CPU中用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的高速行儲(chǔ)器，用來臨時(shí)存放指令、數(shù)據(jù)和操作結(jié)果。

半導(dǎo)體存儲(chǔ)器

隨著科技的發(fā)展，半導(dǎo)體存儲(chǔ)器成為了現(xiàn)代計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器的主流，分為兩類主要類型：

靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器 (SRAM)：SRAN利用晶體管存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，速度非常快，但每個(gè)比特需要更多的晶體管，導(dǎo)致成本高，密度低。主要應(yīng)用在需要高速綏存的場景，如CPU的緩存 (L1、 L2、 L3)

動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器 (DRAM)：DRAM利用電容存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，電容逐漸放電，因此需要不斷刷新來維持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)。相對(duì)于SRAM,DRAM的存儲(chǔ)密度更高，成本較低，因此廣泛用于主內(nèi)存 (RAM)。隨看集成電路制造技術(shù)的進(jìn)步，DRAN容量和性能持續(xù)提升。

現(xiàn)代內(nèi)存技術(shù)

DDR(雙倍數(shù)據(jù)速率)內(nèi)存：從DDR到如今的DDR5，隨看數(shù)據(jù)傳輸速度和功耗的改進(jìn)，DDR系列內(nèi)存成為計(jì)算機(jī)和服務(wù)器的主流內(nèi)存。DDR技術(shù)從2000年開始引入，持續(xù)更新，DDR5的帶完和容量比早期版本有了大幅提升。

閃存 (Flash Memory)：閃存 （Flash Memory)是一種長壽命的非易失性的存儲(chǔ)器，數(shù)據(jù)刪除不是以單個(gè)的字節(jié)為單位而是以固定的區(qū)塊為單位。閃存是電子可擦除只讀存儲(chǔ)器（EEPROM) 的變種，閃存與EEPROM不同的是，EEPROM能在字節(jié)水平上進(jìn)行刪除和重寫而不是整個(gè)芯片擦寫，而閃存的大部分芯片需要塊擦除。由于其斷電時(shí)仍能保存數(shù)據(jù)，閃存通常被用來保存設(shè)置信息，如在電腦的B1OS(基本程序）、PDA（個(gè)人數(shù)字助理）、數(shù)碼相機(jī)中保存資料等。

LPDDR（低功耗DDR)：隨看移動(dòng)設(shè)備的普及，低功耗內(nèi)存技術(shù)成為了關(guān)鍵，LPDDR（低功耗雙倍數(shù)據(jù)速率）內(nèi)存在手機(jī)、平板等設(shè)備上應(yīng)用廣泛，從LPDDR1發(fā)展到LPDDR5，強(qiáng)調(diào)功耗和性能之間的平衡。

HBM (High Bandwidth Memory，高帶亮內(nèi)存): HBM是一種高性能DRAM，具有更高的帶完和更低的功耗，主要用于圖形處理器（GPU) 和高性能計(jì)算 (HPC)領(lǐng)域。HBM通過垂直堆愛的方式來提升存儲(chǔ)密度和傳輸速度，減少了延遲和能耗。

DDR內(nèi)存原理

基本DDR subsystem架構(gòu)圖：DDRC +DDRphy +SDRAM顆粒，DDR IP一般包括DDR Controller和DDR PHY，內(nèi)部涉及的內(nèi)容包括但不限于以下幾個(gè)方面：數(shù)據(jù)保序、仲裁、zuiyou調(diào)度、協(xié)議狀態(tài)機(jī)設(shè)計(jì)、防餓死機(jī)制、bypass通路、快速切頻、DDR training

DDR工作原理

當(dāng)時(shí)鐘脈沖達(dá)到一定頻率時(shí)，DDR存儲(chǔ)器才開始工作，此后發(fā)生的就是“讀-存-讀"的過程。在此過程中，器件芯片會(huì)從主在取數(shù)據(jù)，然后與入數(shù)據(jù)在儲(chǔ)區(qū)。當(dāng)寫入操作完成后，再從存儲(chǔ)區(qū)中取出數(shù)據(jù)，並將其傳輸?shù)教幚砥髦?，然后根?jù)需要將數(shù)據(jù)處理，再把最終結(jié)果返回到主存。

DDR 的雙倍數(shù)據(jù)傳輸率其實(shí)就是每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)讀寫一次數(shù)據(jù)，即DDR芯片可以在每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)分別完成“讀-存"和“存-讀"操作，從而提高存儲(chǔ)器的傳輸效率。

DDR內(nèi)存通過雙倍數(shù)據(jù)速率的傳輸方式，結(jié)合多通道傳輸和數(shù)據(jù)校驗(yàn)等技術(shù)，提高了數(shù)據(jù)傳輸效率和可靠性。這使得 DDR 成為了計(jì)算機(jī)內(nèi)存的主流技術(shù)。

內(nèi)存芯片 - DDR內(nèi)存模塊中包含多個(gè)內(nèi)存芯片，每個(gè)芯片有自己的存儲(chǔ)單元。每個(gè)存儲(chǔ)單元都有一個(gè)地址，用于在讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)時(shí)進(jìn)行尋址。

數(shù)據(jù)總線 - DDR內(nèi)存模塊連接到計(jì)算機(jī)的內(nèi)存控制器，通過數(shù)據(jù)總線進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。數(shù)據(jù)總線可以同時(shí)傳輸多個(gè)數(shù)據(jù)位，例如 64 位或 128位。

時(shí)鐘信號(hào) - DDR內(nèi)存模塊通過時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行同步操作。時(shí)鐘信號(hào)用來控制數(shù)據(jù)的傳輸速率，每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)有一個(gè)上升沿和一個(gè)下降沿。上升沿時(shí)，數(shù)據(jù)從內(nèi)存芯片傳輸?shù)綌?shù)據(jù)總線；下降沿時(shí)，數(shù)據(jù)從數(shù)據(jù)總線傳輸?shù)絻?nèi)存芯片。

預(yù)充電 - 在開始傳輸數(shù)據(jù)之前，DDR內(nèi)存模塊會(huì)先進(jìn)行預(yù)充電操作。預(yù)充電是將存儲(chǔ)單元中的電荷恢復(fù)到初始狀態(tài)，以確保接下來的數(shù)據(jù)傳輸是準(zhǔn)確的。

數(shù)據(jù)傳輸 - DDR 采用了多通道的數(shù)據(jù)傳輸方式，即同時(shí)傳輸多個(gè)數(shù)據(jù)位。這樣可以在每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)傳輸更多的數(shù)據(jù)。

存儲(chǔ)器分類

存儲(chǔ)器分為內(nèi)部存儲(chǔ)器(內(nèi)存)，外部存儲(chǔ)器(外存)，緩沖存儲(chǔ)器(緩存)以及閃存這幾個(gè)大類。

內(nèi)存也稱為主存儲(chǔ)器，位于系統(tǒng)主機(jī)板上，可以同CPU直接進(jìn)行信息交換。其主要特點(diǎn)是：運(yùn)行速度快，容量小。

外存也稱為輔助存儲(chǔ)器，不能與CPU之間直接進(jìn)行信息交換。其主要特點(diǎn)是：存取速度相對(duì)內(nèi)存要慢得多，存儲(chǔ)容量大。

內(nèi)存與外存本質(zhì)區(qū)別是，一個(gè)是內(nèi)部運(yùn)行提供緩存和處理的功能，也可以理解為協(xié)同處理的通道;而外存主要是針對(duì)儲(chǔ)存文件、圖片、視頻、文字等信息的載體，也可以理解為儲(chǔ)存空間。緩存就是數(shù)據(jù)交換的緩沖區(qū) （稱作Cache），當(dāng)某一硬件要讀取數(shù)據(jù)時(shí)，會(huì)首先從緩存中查找需要的數(shù)據(jù)，如果找到了則直接執(zhí)行，找不到的話則從內(nèi)存中找。由于緩存的運(yùn)行速度比內(nèi)存快得多，故緩存的作用就是幫助硬件更快地運(yùn)行。

閃存 （Flash Memory)是一種長壽命的非易失性的存儲(chǔ)器，數(shù)據(jù)刪除不是以單個(gè)的字節(jié)為單位而是以固定的區(qū)塊為單位。閃存是電子可擦除只讀存儲(chǔ)器（EEPROM) 的變種，閃存與EEPROM不同的是，EEPROM能在字節(jié)水平上進(jìn)行刪除和重寫而不是整個(gè)芯片擦寫，而閃存的大部分芯片需要塊擦除。由于其斷電時(shí)仍能保存數(shù)據(jù)，閃存通常被用來保存設(shè)置信息，如在電腦的B1OS(基本程序）、PDA（個(gè)人數(shù)字助理）、數(shù)碼相機(jī)中保存資料等。

如何計(jì)算DDR帶寬？

內(nèi)存帶寬計(jì)算公式1：
帶寬=內(nèi)存核心頻率×倍增系數(shù)×(內(nèi)存總線位數(shù)/8)

內(nèi)存帶寬計(jì)算公式2：
帶寬=標(biāo)稱頻率×線寬 ÷ 8

SDRAM和DDR區(qū)別是什么?

DDR=雙倍速率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器，是內(nèi)存的其中一種。DDR取消了主板與內(nèi)存兩個(gè)存儲(chǔ)周期之間的時(shí)間間隔，每隔2個(gè)時(shí)鐘脈沖周期傳輸一次數(shù)據(jù)，大大地縮短了存取時(shí)間,使存取速度提高百分之三十。

SDRAM是 "Synchronous Dynamic random access memory"的縮寫，意思是“同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器"，就是我們平時(shí)所說的“同步內(nèi)存"。從理論上說，SDRAM與CPU頻率同步，共享一個(gè)時(shí)鐘周期。SDRAM內(nèi)含兩個(gè)交錯(cuò)的存儲(chǔ)陣列，當(dāng)CPU從一個(gè)存儲(chǔ)陣列訪問數(shù)據(jù)的同時(shí)，另一個(gè)已準(zhǔn)備好讀寫數(shù)據(jù)，通過兩個(gè)存儲(chǔ)陣列的緊密切換，讀取效率得到成倍提高。

DDR是SDRAM的更新?lián)Q代產(chǎn)品，采用5伏工作電壓，允許在時(shí)鐘脈沖的上升沿和下降沿傳輸數(shù)據(jù)，這樣不需要提高時(shí)鐘的頻率就能加倍提高SDRAM的速度，并具有比SDRAM多一倍的傳輸速率和內(nèi)存帶寬。

DDR誤碼率測量

DDR5和DDR4的區(qū)別

DDR發(fā)展歷程

DDR（DDR1)-DDR SDRAM 于 2000 年推出，與其前身 SDR SDRAM（單速率 SDRAM）相比有了顯著的改進(jìn)。與 SDR SDRAM 相比，DDR1 的數(shù)據(jù)傳輸速率提高了一倍，從而實(shí)現(xiàn)了更快的內(nèi)存訪問速度并提高了系統(tǒng)性能。DDR1 模塊最初提供的數(shù)據(jù)傳輸速率范圍為 200 MT/s 至 400 MT/s（每秒兆次傳輸）。DDR1 內(nèi)存通常用于臺(tái)式計(jì)算機(jī)、筆記本電腦和早期的服務(wù)器系統(tǒng)。

DDR2 - DDR2 SDRAM 于 2003 年推出，在 DDR1 的基礎(chǔ)上進(jìn)一步提高了速度和效率。與 DDR1 相比，DDR2 的預(yù)取緩沖區(qū)大小增加了一倍，從而可以提高數(shù)據(jù)吞吐量。DDR2 模塊最初提供的數(shù)據(jù)傳輸速率范圍為 400 MT/s 至 800 MT/s。DDR2 內(nèi)存在中端到gaoduan計(jì)算系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用，與 DDR1 相比，其性能和能效更高。

DDR3 - 2007 年發(fā)布的 DDR3 SDRAM 代表著內(nèi)存技術(shù)的又一次重大進(jìn)步。與 DDR2 相比，DDR3 進(jìn)一步提高了數(shù)據(jù)傳輸速率，同時(shí)降低了功耗。DDR3 模塊最初支持的數(shù)據(jù)傳輸速率從 800 MT/s 到 1600 MT/s，后來的速度最高可達(dá) 2133 MT/s。DDR3 內(nèi)存成為主流計(jì)算系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)，在性能、能效和價(jià)格之間實(shí)現(xiàn)了平衡。

DDR4和DDR5的性能差距?

作為當(dāng)前市場主流的 DDR4標(biāo)準(zhǔn)和業(yè)界正在集中攻關(guān)的 DDR5標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)比有何差異呢?

如下表所列，從芯片開發(fā)到電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)角度來看相比，DDR5 為了實(shí)現(xiàn)更高帶寬和吞吐量進(jìn)一步提升讀寫速率和改變通道架構(gòu)以及猝發(fā)讀寫長度，目前規(guī)劃的最高速率達(dá) 8400M T/s。

為了實(shí)現(xiàn)更低功耗和電源管理 I/O 電壓降到 1.1V，并在 DIMM 條上完成電源管理工作以實(shí)現(xiàn)更高 的電源效率(主要是縮短電源傳輸路徑以降低損耗和減小潛在的干擾)。為了提高數(shù)據(jù)帶寬，不僅 提升速率同時(shí)采用雙通道架構(gòu)，提升讀寫效率，采用雙通道 32 data + 8 ECC，Burst Length 也從 4/8 提高到 8/16，最后還支持更高容量的 DRAM 器件，從 DDR4 16 Gb 加倍到 32 Gb?？傊?，DDR5 作為業(yè)界備受期望的第 5 代 I/O 的內(nèi)部數(shù)據(jù)共享和傳輸標(biāo)準(zhǔn)將與 PCI Express 5.0 乃至 6.0 等高速接口標(biāo)準(zhǔn)一起重塑 iABC 時(shí)代的大數(shù)據(jù)流的高速公路。

表 1 DDR4 和 DDR5 比較(源自 Rambus)

2.1.1 速率的提升

近年來，內(nèi)存與CPU性能發(fā)展之間的剪刀差越來越大，對(duì)內(nèi)存帶寬的需求日益迫切。DDR4在1.6GHz的時(shí)鐘頻率下最高可達(dá) 3.2 GT/s的傳輸速率，最初的 DDR5則將帶寬提高了 50%，達(dá)到 4.8 GT/s傳輸速率。DDR5 內(nèi)存的數(shù)據(jù)傳輸速率最終將會(huì)達(dá)到 8.4 GT/s。

2.1.2 電壓的降低

降低工作電壓（VDD），有助于抵消高速運(yùn)行帶來的功耗增加。在 DDR5 DRAM 中，寄存時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器 (RCD) 電壓從 1.2 V 降至 1.1 V。命令/地址 (CA) 信號(hào)從 SSTL 變?yōu)?PODL，其優(yōu)點(diǎn)是當(dāng)引腳處于高電平狀態(tài)時(shí)不會(huì)消耗靜態(tài)功率。

2.1.3 DIMM新電源架構(gòu)

使用 DDR5 DIMM 時(shí)，電源管理將從主板轉(zhuǎn)移到 DIMM 本身。DDR5 DIMM 將在 DIMM 上安裝一個(gè) 12 V 電源管理集成電路（PMIC），使系統(tǒng)電源負(fù)載的顆粒度更細(xì)。PMIC 分配1.1 V VDD 電源，通過更好地在 DIMM 上控制電源，有助于改善信號(hào)完整性和噪音。

2.1.4 DIMM通道架構(gòu)

DDR4 DIMM 具有 72 位總線，由 64 個(gè)數(shù)據(jù)位和 8 個(gè) ECC 位組成。在 DDR5 中，每個(gè) DIMM 都有兩個(gè)通道。每個(gè)通道寬 40 位，32 個(gè)數(shù)據(jù)位和 8 個(gè) ECC 位。雖然數(shù)據(jù)寬度相同（共 64 位），但兩個(gè)較小的獨(dú)立通道提高了內(nèi)存訪問效率。因此，使用 DDR5 不僅能提高速度，還能通過更高的效率放大更高的傳輸速率。

圖 2 DDR5總線架構(gòu)和標(biāo)準(zhǔn)DDR5 RDIMM 內(nèi)存條

2.1.5 更長的突發(fā)長度

DDR4 的突發(fā)長度為4或者8。對(duì)于 DDR5，突發(fā)長度將擴(kuò)展到8和16，以增加突發(fā)有效載荷。突發(fā)長度為16(BL16)，允許單個(gè)突發(fā)訪問 64 字節(jié)的數(shù)據(jù)，這是典型的 CPU 高速緩存行大小。它只需使用兩個(gè)獨(dú)立通道中的一個(gè)通道即可實(shí)現(xiàn)這一功能。這極大地提高了并發(fā)性，并且通過兩個(gè)通道提高了內(nèi)存效率。

2.1.6 更大容量的 DRAM

DDR4 在單芯片封裝（SDP）中的最大容量為16 Gb DRAM。而DDR5的單芯片封裝最大容量可達(dá)64 Gb，組建的DIMM 容量則翻了兩番，達(dá)到驚人的 256 GB。

應(yīng)用指南

無矢量測試：nanoVTEP 與 VTEP

本應(yīng)用指南總結(jié)了在客戶現(xiàn)場進(jìn)行的無矢量測試增強(qiáng)型探針 (VTEP) 早期測試的一些結(jié)果。

DDR5主要特點(diǎn)

從物理層信號(hào)角度來看，DDR5主要有如下特點(diǎn)：

1.采用分離式全速率時(shí)鐘，對(duì)應(yīng) 6400M T/s 頻率最高達(dá) 3.2GHz。

時(shí)鐘控制命令信號(hào),選通信號(hào)控制數(shù)據(jù),如上圖示。

對(duì)時(shí)鐘信號(hào)抖動(dòng)的要求更加嚴(yán)格，對(duì)各 種命令信號(hào)與數(shù)據(jù)和地址信號(hào)的時(shí)序要求也更高。

2.更寬的總線，單端信號(hào)，從 RCD(Registering Clock Drivers)芯片來看采用 Multi-Drop 架構(gòu)。

基于今天更寬的總線需求，在一塊刀片服務(wù)器上可能支持 1000+個(gè)并行數(shù)據(jù)通道。且由于 繼續(xù)采用單端信號(hào)且速率倍增，傳統(tǒng)只在串行差分電路上考慮的損耗問題也開始困擾 DDR5。因此 在 DDR5設(shè)計(jì)和驗(yàn)證測試上，不僅需要考慮傳統(tǒng)的串?dāng)_問題還增加了對(duì)電路損耗問題的考慮。

應(yīng)用指南

DDR5走線的正確受控阻抗是多少？

本文檔檢查了 DDR器件供應(yīng)商提出的受控阻抗建議，將這些建議與制造電路板上的阻抗進(jìn)行比較，并提供設(shè)計(jì)建議。 鑒于缺乏可用的 DDR5設(shè)計(jì)，本案例研究重點(diǎn)關(guān)注現(xiàn)有開源 DDR4設(shè)計(jì)的阻抗。對(duì)供應(yīng)商建議的最大和最小阻抗范圍以及已制造的 DDR設(shè)計(jì)中的阻抗進(jìn)行了比較。 制造的開源板均具有在建議范圍內(nèi)的 DDR控制阻抗。

3.雙向復(fù)用的數(shù)據(jù)總線，讀寫數(shù)據(jù)分時(shí)復(fù)用鏈路。 囿于有限的鏈路通道和布板空間等資源讀寫操作繼續(xù)采用共享總線，因此需要分時(shí)操作。

從驗(yàn)證測試角度來看也需要分別對(duì)讀和寫信號(hào)進(jìn)行分離以檢查其是否滿足規(guī)范。

圖 4 DDR5 讀寫共享總線

4.猝發(fā) DQS 和 DQ 信號(hào)在更高速率的背景下在有限帶寬的鏈路傳輸時(shí)帶來更多 ISI 效應(yīng)問題。

在 DQS 讀寫前導(dǎo)位，猝發(fā)第一個(gè) bit 等等均有不同的效應(yīng)和表現(xiàn)。此外考慮到存儲(chǔ)電路在設(shè)計(jì)上不同于串行電路存在較多的阻抗不匹配，因此反射問題或干擾帶來的 ISI 也會(huì)更嚴(yán)重。

圖 5 DDR5 在接收端采用更多的類似高速串行總線的信號(hào)處理

因此在接收側(cè)速率大于 3600M T/s 時(shí)采用類似高速串行電路和標(biāo)準(zhǔn)總線中已經(jīng)成熟的 DFE 均衡技術(shù)，可變?cè)鲆娣糯?VGA)則通過 MR 寄存器配置，以補(bǔ)償在更高速率傳輸時(shí)鏈路上的損耗。 DDR4標(biāo)準(zhǔn)采用的 CTLE 作為常用的線性均衡放大，雖然簡單易實(shí)現(xiàn)但是其放大噪聲的副產(chǎn)品也更 為常見，考慮到 DDR5總線里的反射噪聲比沒有采用。另外考慮到并行總線的串?dāng)_和反射等各信 號(hào)抖動(dòng)的定義和分析也會(huì)隨之變化。

從測試角度來看，示波器是無法得到 TP2點(diǎn)即均衡后的信號(hào)的，而僅能得到 TP1點(diǎn)的信 號(hào)，然后通過集成在示波器上的分析軟件里的均衡算法對(duì)信號(hào)進(jìn)行均衡處理以得到張開的眼圖。 眼圖分析的參考時(shí)鐘則來自基于時(shí)鐘信號(hào)的 DQS 信號(hào)。另外眼圖測試也從以往僅對(duì) DQ 進(jìn)行擴(kuò)展 到包括 CMD/ADDR總線。

以上我們介紹了 DDR5 的一些新的變化和挑戰(zhàn)。下面介紹一下 DDR5 的驗(yàn)證和測試的一些問題和解決方案。

DDR5測試方案

當(dāng)前 DDR5 規(guī)范尚未wanquan制定完畢，DDR5 顆粒以及輔助 DB 和 RCD 芯片目前主要還在 DIMM 應(yīng)用階段，未進(jìn)入嵌入式系統(tǒng)階段。典型的 DDR5 生態(tài)系統(tǒng)，涉及 DDR5總線的主要包括 DIMM 產(chǎn)品和系統(tǒng)集成產(chǎn)品。當(dāng)前主要有三種 DIMM 產(chǎn)品：UDIMM(Unbuffered DIMM),RDIMM(Registered DIMM),LRDIMM(Load-Reduced DIMM)。DDR5生態(tài)系統(tǒng)如下圖示：

圖 6 DDR5 生態(tài)系統(tǒng)

典型地在 DIMM 上，與 DDR5總線相關(guān)除了核心的顆粒 DRAM 之外，還有 DB(LRDIMM 上 用 buffer 芯片)，RCD 等芯片。從上圖可以看到針對(duì)不同功能的芯片部件到 DIMM 直到系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品 集成，分別有不同的測試需求。比如針對(duì) DRAM 顆粒以及 DB 和 RCD 等，需要進(jìn)行 TX，RX 及 Protocol 測試，而對(duì)整個(gè) DIMM 產(chǎn)品而言則要進(jìn)行 RX 測試和協(xié)議測試。

下面我們就 DDR5 DIMM產(chǎn)品各主要芯片或部件的 DDR5總線測試進(jìn)行一個(gè)簡單介紹。

二. 發(fā)送端測試方法

首先來看 DDR總線的發(fā)送端測試方法。這一測試主要是以 DRAM 芯片為目標(biāo)進(jìn)行，從 DRAM 芯片到 Memory Controller 芯片乃至系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品開發(fā)均存在測試需求。

1. 探測問題

同其它標(biāo)準(zhǔn)一樣，我們首先要明確測試點(diǎn)的位置。在 DDR總線上，由于 CPU 作為系統(tǒng)核 心，通常是沒有辦法預(yù)留測試點(diǎn)進(jìn)行焊接或者采用專用夾具在系統(tǒng)上進(jìn)行探測的。因此 DDR總線 的測試一般都選擇在 DRAM 顆粒側(cè)進(jìn)行。當(dāng) Memory Controller 對(duì) DRAM 進(jìn)行寫操作時(shí)，寫信號(hào)經(jīng) 過一段走線到 DRAM, 在接收端進(jìn)行信號(hào)探測，因此實(shí)際測試的是 CPU 或 Memory Controller 發(fā)送 到顆粒側(cè)的信號(hào)。反之進(jìn)行讀操作時(shí)，則從 DRAM 發(fā)出數(shù)據(jù)信號(hào)到 Memory Controller，因此是在 信號(hào)的發(fā)送端進(jìn)行探測，信號(hào)則可能存在反射問題。通常 JEDEC 規(guī)范定義的讀寫操作的信號(hào)指標(biāo) 即為上述定義。

圖 7 DDR5 BGA Probe 和板上安裝示意圖

即使在顆粒側(cè)進(jìn)行測試，在不同時(shí)代針對(duì)不同速率業(yè)界也采用過多種方法。從早期的片外 電阻端接點(diǎn)到預(yù)留測試點(diǎn)和過孔，再發(fā)展到 DDR3 和 DDR4 時(shí)代廣泛采用的 BGA Probe----DDR 測試 專用夾具。上圖即為 DDR5 BGA Probe 和板上安裝示意圖，該 BGA Probe 適用于 DDR5-4800 X8 DRAM 顆粒。通過 BGA Probe 將各信號(hào)引到夾具邊緣，然后用探頭焊接進(jìn)行測試。這一測試點(diǎn)是 zui接近 DRAM BGA 焊球處的信號(hào)，也就是說這一測試信號(hào)能夠準(zhǔn)確反映芯片對(duì)規(guī)范的遵從性。

即使 BGA Probe 夾具已經(jīng)提供了zui接近真實(shí)信號(hào)測試點(diǎn)的位置，然而依然存在誤差。因此 如果有 BGA Probe 的模型或 S 參數(shù)，還可以用示波器上的去嵌功能進(jìn)行 De-Embed 操作。如下圖 示：

圖 8 InfiniiSim 用于 DDR BGA Probe 去嵌示意圖

Keysight 實(shí)時(shí)示波器上的 D9020ASIA 選件中的 InfiniiSim 功能可以提供功能強(qiáng)大的去嵌，下圖展示的是一個(gè) DDR4眼圖實(shí)測效果對(duì)比，采用 InfiniiSim 去嵌后眼圖在水平方向上裕量有顯著提高：

圖 9 InfiniiSim 去嵌功能與眼圖測試對(duì)比

Infiniium UXR-B 系列示波器

Infiniium UXR-B 系列示波器

在針對(duì) DDR信號(hào)的測試上，示波器探頭選擇也是非常有講究的地方。

高帶寬有源探頭通常根據(jù)其負(fù)載模型有 RC(下圖中紅色跡線)和 RCRC(下圖中藍(lán)色跡線)的區(qū) 別，如下圖示。Keysight 113X/116X 探頭均采用 RC模型，表現(xiàn)為寬頻帶高阻抗特性。RCRC類探頭，典型地如 N7000A 系列和 N280X 系列，具有高 DC 阻抗，中頻帶阻抗則明顯低于 RC 探頭，為 K? 級(jí)。

圖 10 RC 與 RCRC 探頭阻抗曲線示意圖

考慮到 DDR總線空閑時(shí)呈 High Z 狀態(tài)，動(dòng)態(tài) ODT 使 DRAM 可以在高或低端接阻抗之間切 換。 在 High Z 狀態(tài)端接阻抗變高時(shí)，探頭阻抗需要足夠高以降低探頭負(fù)載效應(yīng)，探頭阻抗偏低對(duì)電路不能形成足夠高阻從而產(chǎn)生假信號(hào)。下面兩幅圖分別對(duì)比采用 RCRC探頭和 RC探頭進(jìn)行測試時(shí)的波形。

圖 11 RCRC探頭和 RC探頭 DDR波形測試對(duì)比

除了探頭的阻抗特性外，考慮到 DDR5顆粒的體積越來越小帶來的封裝越來越小型化，對(duì) 探頭前端尺寸的小型化要求也越來越高。

Keysight 最新推出的 MX0023A 25GHz 帶寬 RC 探頭,配合最新的 MX0100A 焊接前端，推薦 用于 DDR5 測試。 MX0100A 前端間距在 0-7mm 范圍內(nèi)可調(diào)節(jié)，與 MX0023A 配合使用帶寬可達(dá) 25GHz，與 1169B 配合使用可達(dá) 13Ghz。另外該前端工作范圍從-55 °C 到+155 °C，支持進(jìn)行高低溫 測試(配合長達(dá) 1 米的 N5450B 高低溫延長電纜)。

MX0025A InfiniiMax Ultra 探頭放大器，25 GHz

圖 12 Keysight MX0023A RC 探頭和 MX0100A 焊接前端及業(yè)界其它廠家前端尺寸對(duì)比

重點(diǎn)：采用 RC 類型探頭對(duì) DDR總線進(jìn)行探測是確保獲得精確測量的基礎(chǔ)保障。

2. DDR總線測試的難點(diǎn) - 讀寫分離問題

讀寫分離一直是 DDR總線測試的難點(diǎn)。由于 DDR總線一直采用讀寫數(shù)據(jù)共享數(shù)據(jù)總線， 而 JEDEC 規(guī)范針對(duì)讀寫操作制定了不同的指標(biāo)，因此如果需要對(duì)被測器件和設(shè)備進(jìn)行準(zhǔn)確測試就 必須分別對(duì)讀和寫進(jìn)行分開測試。一種方法是 Memory Controller 可以編程只進(jìn)行讀或?qū)懖僮饕苑?別進(jìn)行測試。另外一種方法就是在示波器上根據(jù)讀和寫信號(hào)的特點(diǎn)設(shè)置恰當(dāng)?shù)挠|發(fā)進(jìn)行分離。我 們來看看第二種方法。

在過往 DDR3 和 DDR4總線上，主要采用 DQS 前導(dǎo)位或者 DQS 和 DQ 的相位差進(jìn)行分離。 在 DDR5總線上，DQS 和 DQ 在讀寫操作時(shí)沒有相位差，DQS 的讀寫操作的前導(dǎo)碼也是相同的， 因此在 DDR5總線上的讀寫分離是一個(gè)難點(diǎn)。

當(dāng)前 Keysight 根據(jù) JEDEC DDR5 規(guī)范真值表，在讀和寫操作時(shí)，CA4 有差異，如下圖紅色方 框標(biāo)準(zhǔn)，讀時(shí)高，寫時(shí)低。另外再根據(jù)讀和寫操作時(shí)的 Latency 差異進(jìn)行讀寫分離。

Command Truth Table

表 2 JEDEC 規(guī)范命令真值表

圖 13 DDR5總線讀寫時(shí)序和 Latency 差異

重點(diǎn)：如果要對(duì) DDR5總線的讀寫操作進(jìn)行有效分離，相比以往DDR標(biāo)準(zhǔn)采用最少 3 根探頭 (CLK,DQS,DQ)進(jìn)行信號(hào)測試連接，在 DDR5 則需要增加 CA4 連接和探測，也就是說需要 4根探頭進(jìn)行測試！

3.信號(hào)分析和算法方面的變化 DDR5 相比以往DDR標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘和控制及數(shù)據(jù)信號(hào)的分析等也有很多進(jìn)展。

首先來看全新的抖動(dòng)定義。

全新的抖動(dòng)定義

考慮到 DDR5全速率時(shí)鐘架構(gòu)，因此在 DQS/DQ/CLK 等信號(hào)抖動(dòng)的測量上相比以往DDR標(biāo)準(zhǔn)提出了新的定義。

抖動(dòng)基礎(chǔ)知識(shí)：抖動(dòng)源、類型和特征

首先來看 UI定義 - UI是啥?

圖 14 DDR5 規(guī)范中 UI定義

特別地，對(duì)時(shí)鐘而言，一個(gè)周期計(jì)作 2 個(gè) UI.

圖 15 UI Jitter 定義

UI Jitter 定義為任一個(gè)周期相對(duì)理想值的偏差，類似于經(jīng)典抖動(dòng)定義中的 Period Jitter，周期抖動(dòng)。

UI-UI Jitter 則類似于經(jīng)典抖動(dòng)定義中的 Period-Period Jitter，是 UI 的微分。

而 Accumulated Jitter 則類似于經(jīng)典抖動(dòng)定義中的 TIE Jitter，時(shí)間間隔誤差抖動(dòng)，是長期抖動(dòng)的積分。

眼圖測試

– 可以測量數(shù)據(jù)眼高和眼寬
– 用戶還可以根據(jù)器件規(guī)范定義自己的眼圖模板
– 如果眼圖不符合模板，那么一致性應(yīng)用軟件可以報(bào)告不合格狀態(tài)

DDR4 規(guī)范考慮了抖動(dòng)和 BER 的關(guān)鍵作用。計(jì)算抖動(dòng) BER 測量結(jié)果很重要，它可以統(tǒng)計(jì)測量總體抖動(dòng)（確定性抖動(dòng)+隨機(jī)抖動(dòng)），了解設(shè)計(jì)的數(shù)據(jù)有效窗口結(jié)果和可能出現(xiàn)錯(cuò)誤的概率。

除了規(guī)范測試，采用正確的測試過程和方法也是至關(guān)重要的。例如，示波器探頭的正確放置會(huì)影響一致性測試結(jié)果以及設(shè)計(jì)裕量的準(zhǔn)確表征和測試。對(duì)于 JEDEC 規(guī)范，最佳探測點(diǎn)位于 DRAM封裝的球上（不在傳輸線或通道上，也不在存儲(chǔ)器控制器上）。

仿真是測試過程中的另一個(gè)重要卻經(jīng)常被忽略的步驟。隨著總線速度的提高以及獲得盡量多裕量的需求，仿真過程可以很大程度地幫助減少設(shè)計(jì)周期和成本。

例如，仿真有助于確保系統(tǒng)能夠容忍內(nèi)插器的負(fù)載效應(yīng)。這一步驟評(píng)測所測量的帶寬/頻率響應(yīng)，確保內(nèi)插器不會(huì)斷開總線。

最后，是德科技與 JEDEC 組織密切合作，以確保其測試和測量解決方案與 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的測試和測量規(guī)范保持高度一致。

圖 2. 然后將具有適當(dāng)負(fù)載效應(yīng)的仿真設(shè)計(jì)與原型的實(shí)際掃描結(jié)果進(jìn)行比較，確定系統(tǒng)正常運(yùn)行。

眼圖測試

如何計(jì)算總體抖動(dòng)？

確定性抖動(dòng)（DJ）通常是有界而可預(yù)測的，可以與數(shù)據(jù)流相關(guān)聯(lián)，例如符號(hào)間干擾和占空比失真。隨機(jī)抖動(dòng)（RJ）屬于高斯分布并且是無界的。與任何高斯分布一樣，隨著總量的增加，分布的峰-峰值也會(huì)增加。因此，總體抖動(dòng)（TJ）等于確定性抖動(dòng) DJ 加上隨機(jī)抖動(dòng) RJ 與 BER乘積。了解抖動(dòng)的組成和來源可以幫助設(shè)計(jì)人員降低設(shè)計(jì)中抖動(dòng)的發(fā)生率，確保更好的數(shù)據(jù)性能。

三、DDR5測試新方法

3.1 發(fā)送端TX測試挑戰(zhàn)

3.1.1 讀寫分離

由于規(guī)范規(guī)定DDR5，不再像傳統(tǒng)的DDR一樣，讀寫在pin腳處有嚴(yán)格的相位差別。所以使用DQS-DQ 相位差和前置信號(hào)模式的傳統(tǒng)方法可能不再適用，需要采用新方法進(jìn)行讀寫數(shù)據(jù)分離。

根據(jù)真值表可以看出，CA4在讀寫操作過程中有不同的邏輯電平，所以可以根據(jù)CA4的狀態(tài)來結(jié)合讀寫延遲來進(jìn)行讀寫分離。

3.1.2新增的測試參數(shù)

由于速率的提高，可能需要新的測試參數(shù)來鑒定關(guān)鍵信號(hào)。抖動(dòng)成為關(guān)鍵信號(hào)的重要組成部分。規(guī)范定義了全新的UI抖動(dòng)定義。

以及針對(duì)該UI的測量算法。

UI的測量項(xiàng)將覆蓋CLK(input)、DQS(tx)和DQ(tx) 信號(hào)，且要求非常嚴(yán)格。

根據(jù)下表的計(jì)算，按照DDR5 4800的速率為例，要求測量出來的Rj最大值為0.0037UI，也就是769.6fs。

如此高要求的測量結(jié)果，也對(duì)儀表本身的性能提出了非常高的要求。儀表的抖動(dòng)測量本底計(jì)算公式如下，可以看出示波器的本底噪聲以及本底抖動(dòng)，對(duì)抖動(dòng)測量起了非常大的影響。

是德科技UXR旗艦級(jí)實(shí)時(shí)示波器，具有25fs的極低本底抖動(dòng)，165μV(rms)(16G帶寬下) 的本底噪聲。可以提供可靠的DDR5的相關(guān)抖動(dòng)測試。

實(shí)時(shí)示波器――合規(guī)性測試

3.1.3 測試方法

DDR的TX測量手法，一直是我們所關(guān)心的內(nèi)容。在DDR4以前，規(guī)范規(guī)定的測試點(diǎn)，均在DRAM的ball處。DDR5里，除了眼圖測試以外，其他測試點(diǎn)沒有做額外更新。

我們推薦使用interposer的方式來進(jìn)行測量，如下圖所示。

測量完成后，通過S參數(shù)的數(shù)學(xué)計(jì)算，實(shí)現(xiàn)從實(shí)測點(diǎn)到理論測試點(diǎn)的波形轉(zhuǎn)換。

而針對(duì)于DDR5的眼圖測試，如果打開了DFE功能，示波器可以在去嵌的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步完成均衡的操作，最后得到需要的波形。

當(dāng)然，是德科技已經(jīng)提供自動(dòng)化的測試App，方便的給用戶提供可視化的一鍵測試方案。

3.1.4 控制器測試新場景

由于信號(hào)速率的不斷提升，控制器、鏈路、芯片，紛紛加入了測試大軍。下圖展示了針對(duì)于控制器、PCB互聯(lián)鏈路的TX測試場景，通過示波器，配合夾具的使用，來實(shí)現(xiàn)發(fā)送端的信號(hào)質(zhì)量測試。

3.2 接收端RX測試挑戰(zhàn)

3.2.1 接收端新技術(shù)

以往的高速串行鏈路設(shè)計(jì)中，我們知道隨著速率的不斷提升，鏈路的損耗，以及ISI，對(duì)高頻分量的影響越來越大，所以在PCIE Gen3的時(shí)候，引入了接收端均衡的概念，用于彌補(bǔ)高頻分量的損失。

具體來看，有下面幾點(diǎn)。①是接收端的信號(hào)會(huì)先經(jīng)過CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡)均衡，圖上展示的是具有7個(gè)DC gain的CTLE曲線。然后信號(hào)會(huì)一分為二，一部分給到CDR②，CDR中的核心PLL的OJTF函數(shù)是一個(gè)類似左邊的高通濾波器。信號(hào)的另一部分信號(hào)會(huì)給到③具有一個(gè)tap的DFE(panjue反饋均衡)。

我們特別注意一下圖里標(biāo)識(shí)的2個(gè)測試點(diǎn)，一個(gè)是TP2，一個(gè)是TP2`。通常TP2是使用示波器真實(shí)捕獲到的信號(hào)，而TP2`則是使用標(biāo)準(zhǔn)的參考接收機(jī)模型，來去復(fù)原芯片真實(shí)看到的波形。那這種均衡技術(shù)對(duì)DDR5是否有參考借鑒的意義呢？

首先看一下DDR5相對(duì)于傳統(tǒng)serdes技術(shù)有什么特殊的地方。

了解了DDR5和傳統(tǒng)Serdes的幾個(gè)特別之處外，參考在PCIE上使用的均衡技術(shù)，進(jìn)行了部分調(diào)整后如下。

首先是CDR，由于系統(tǒng)里有了顯示時(shí)鐘，可以使用不具有頻率跟蹤能力的DLL模塊，來代替原先復(fù)雜的CDR模塊。

第二個(gè)是CTLE，雖然CTLE實(shí)現(xiàn)簡單，但是考慮到單端的DDR5總線里的反射和串?dāng)_等，對(duì)信噪比惡化嚴(yán)重，所以使用了VGA可變?cè)鲆娣糯笃鱽泶鍯TLE。

第三個(gè)是借鑒了成熟的DFE均衡技術(shù)。最后一個(gè)，沿用了DDR以往的write leveling和read leveling機(jī)制。把原先在接收端實(shí)現(xiàn)的去加重功能放在了控制器端來實(shí)現(xiàn)。

3.2.2 接收端測試的新挑戰(zhàn)

傳統(tǒng)的Serdes接收端測試(以PCIe為例)，目的是確定DUT能否在芯片封裝的ball處(或者CEM規(guī)范的金手指處)可靠接收帶有zhidin受損的信號(hào)，達(dá)到要求的誤碼率要求。

針對(duì)DDR的單端并行總線系統(tǒng)，非相關(guān)抖動(dòng)、電平干擾、ISI、串?dāng)_、反射，對(duì)于系統(tǒng)的可靠運(yùn)行至關(guān)重要。DDR5的接收端測試，不僅包括了壓力眼測試，也就是在給定的壓力眼信號(hào)下，達(dá)到特定的誤碼率要求，還包括了幅度電壓方面和水平抖動(dòng)方面的靈敏度測試。

而被測DUT，可以是控制器、DRAM、緩沖器/寄存器、DIMM 等。

3.2.3 接收端測試的新方法

規(guī)范定義了接收端測試?yán)锏乃袦y試點(diǎn)要求，以及波形在均衡器之后的指標(biāo)要求。測試前，需要按照規(guī)范的要求進(jìn)行校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)之前，考慮到DDR總線的特殊性。ODT 會(huì)用于優(yōu)化發(fā)送端到接收端的信號(hào)質(zhì)量，由于其允許不同的阻抗設(shè)置，接收端測試過程中，建議使用 48 歐姆進(jìn)行校準(zhǔn)，以盡量減少與標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備之間的不匹配。在此假設(shè)下，通過電平和抖動(dòng)的 BERT 設(shè)置來調(diào)整信號(hào)的形狀，實(shí)現(xiàn)壓力信號(hào)的產(chǎn)生。

是德科技提供以M8000系列誤碼儀為基礎(chǔ)的DDR5接收端測試方案，支持控制器、DRAM、緩沖器/寄存器、DIMM的測試。

3.2.4 接收端測試的校準(zhǔn)

下圖是DDR在系統(tǒng)產(chǎn)品中實(shí)際應(yīng)用的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。依次從DDR控制器，經(jīng)過PCB路徑，來到DIMM上的DRAM顆粒。

DDR在系統(tǒng)產(chǎn)品中實(shí)際應(yīng)用的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)

做校準(zhǔn)的時(shí)候，也是參考上圖的拓?fù)鋪硗瓿烧麄€(gè)路徑的模擬。針對(duì)DIMM或者顆粒而言，信號(hào)由BERT發(fā)出，經(jīng)過CTC2 Board和replicate card，最終由示波器接收，組成完整的端到端鏈路。

這里要特別說明的是，針對(duì)不同的產(chǎn)品測試，有對(duì)應(yīng)的夾具來進(jìn)行配合。主要的夾具有如下幾種。分別是下圖中的C2C test card，System Motherboard Test Fixture，Device Validation Fixture。

其中，CTC2 test card提供DIMM插座，同時(shí)將DIMM上所有信號(hào)包括CA/CMD、DQS，DQ通過SMP連接器的形式引出。用于DIMM、RCD測試夾具、Data Buffer測試夾具、DRAM測試夾具等的校準(zhǔn)和測試。

CTC2 test card

System Motherboard Test Fixture也同樣把CA/CMD、DQS，DQ的信號(hào)通過SMP的方式引出，用于控制器的發(fā)送端測試，以及控制器的接收端測試校準(zhǔn)和測試，同時(shí)還支持系統(tǒng)主板的通道特性驗(yàn)證。

System Motherboard Test Fixture

Device Validation Fixture包括了RCD的測試夾具，Data Buffer的測試夾具，DRAM的測試夾具，以及Combo測試夾具等。主要用于單個(gè)器件產(chǎn)品的校準(zhǔn)與測試，以及多器件的校準(zhǔn)與測試。測試時(shí)插在CTC2的test card上。

Device Validation Fixture

下圖展示的是基于CTC2 test card進(jìn)行的校準(zhǔn)操作。連接方式如圖所示。

使用M80885RCA自動(dòng)化軟件，根據(jù)向?qū)?，完成測試環(huán)境參數(shù)的setup，并對(duì)DUT進(jìn)行初始化。

一步一步，實(shí)現(xiàn)DQS&DQ和CK&CA的各參數(shù)自動(dòng)化校準(zhǔn)。完成自動(dòng)化校準(zhǔn)后，可以查看每個(gè)校準(zhǔn)項(xiàng)目的測試結(jié)果，如下圖所示。

3.2.5 接收端測試

接收端測試包括兩大部分測試內(nèi)容，Sensitivity測試和Stressed Eye測試。其中Sensitivity測試又包含Voltage Sensitivity和Jitter Sensitivity。

DQS和DQ的Voltage Sensitivity測試中，測試DQS的時(shí)候保持DQ的信號(hào)不變，測試DQ的時(shí)候保持DQS的信號(hào)不變。不斷調(diào)整另外一個(gè)參數(shù)的變量，遍歷整個(gè)參數(shù)的范圍后，統(tǒng)計(jì)誤碼率。

DQS的Jitter Sensitivity測試中，首先輸出clean的clk和dq。在此基礎(chǔ)上，遍歷DQS和DQ的相位，計(jì)算出本底jitter的Sensitivity測試。然后依次改變DCD和Rj以及DCD和Rj的組合，遍歷DQS和DQ的相位，完成各種場景下的jitter Sensitivity測試。

Stressed Eye測試中，使用校準(zhǔn)過程中的壓力信號(hào)(如下圖)，來進(jìn)行環(huán)回誤碼率測試。

測試完成后，M80885一致性軟件會(huì)給出上圖右側(cè)的測試結(jié)果與測試報(bào)告。

DDR、LPDDR的協(xié)議解碼測試總結(jié)

是德科技可以給大家?guī)硗暾亩说蕉私鉀Q方案。包括設(shè)計(jì)前期的仿真，涵蓋了memory designer的建模和ADS的前后仿真。發(fā)送端測試中，我們提供業(yè)內(nèi)旗艦級(jí)性能指標(biāo)的UXR實(shí)時(shí)示波器和高性能的RC模型探頭，有效降低測試負(fù)載。接收端測試中，我們提供all-in-box的M8000系列誤碼儀，支持控制器、DRAM、Data Buffer、RCD、DIMM的接收端校準(zhǔn)與測試。協(xié)議分析儀方面，U4164A系列，支持完整的DDR、LPDDR的協(xié)議解碼測試。