keysight 86038B 光色散和損耗分析儀

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描述

Keysight 86038B光色散和損耗分析儀集速度與精度于一身，可實現(xiàn)完整的光纖及元件測量，是開發(fā)和生產用理想設備。 其測量基于行業(yè)標準的調制相位轉換（MPS）法，由于該測試系統(tǒng)的結構是模塊化的，用戶還能定制其所需的配置方式以滿足測試所需。

通過一次性對器件的連接，只需鍵一下按鈕，86038就能測量光譜群延遲（GD）、色散（CD）、差分群延遲（DGD）、偏振模式色散（PMD）、插入損耗或增益（IL），以及偏振相關損耗（PDL）。此外，它還能進行非常的光纖長度測量。 另外，矩陣分析還提供二階偏振模式色散功能。

86038B可用于各種波長選件，從而提供的從1260至1640 nm波長的測量；與Keysight 81600B可調諧激光源選件一同使用，還可對單束激光進行高達200 nm范圍的測量。是德可提供快速掃頻波長測量的所有參數(shù)。

86038B的主要應用包括：網(wǎng)絡設備的設計和生產、特別是10 Gb/s和40 Gb/s傳輸設備；光纖制造、特別是當今用于CWDM系統(tǒng)的全頻光纖；用于高速傳輸系統(tǒng)的色散補償模塊、光纖及DWDM濾波器的設計和生產。

具有色散和損耗測試的全面特征，依賴波長和偏振，采用行業(yè)標準MPS方法

可確定光譜GD、CD、DGD、PMD、IL、PDL，分析二階PMD、GD波形、零色散波長和CD 斜率，并準確地確定光纖或設備長度

提供快速掃頻波長測量的所有參數(shù)

借助部分選件，其zui廣泛應用的波長范圍可達1260-1640 nm，其中單*個選件就能實現(xiàn)高達200 nm頻段的掃描

為可選模塊轉換提供集成支持，用于多端口測試

提高了IL和PDL的精度，可用于重要元件測試

模塊化的靈活特性，配有具有LAN、USB和GPIB接口的Windows操作系統(tǒng)，以及具有遠程控制能力