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chroma 3280 SD Card 測(cè)試分類(lèi)機(jī)，整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類(lèi)機(jī)功能平行測(cè)試120個(gè)micro SD卡Test-In-TrayUPH = 540

chroma 3813 觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī)，可靠的觸碰面板測(cè)試機(jī)適合數(shù)字式觸碰面板與模擬式觸碰面板面板尺寸 : 6 inch x 3 sites or 12.1 inch x 1

chroma 7970 影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng),高速載盤(pán)式影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng)提供完整的影像傳感器玻璃面與錫球面外觀檢測(cè)功能可大幅降低處理時(shí)間之定速連續(xù)取像功能已申請(qǐng)的多吸嘴吸取功能可增加整體檢測(cè)速度良好的光源系統(tǒng)可適用于不同的瑕疵類(lèi)型可對(duì)應(yīng)不同類(lèi)型之瑕疵調(diào)整檢測(cè)規(guī)格

chroma 3710-HS 光伏芯片檢測(cè)系統(tǒng)，適用于 5 吋及 6 吋光伏芯片高產(chǎn)能及 0.2% 以下之低破片率2D 幾何計(jì)算檢測(cè)芯片表面瑕疵檢測(cè)微裂隙檢測(cè)鋸痕檢測(cè)

chroma 3720 光伏電池自動(dòng)分檢系統(tǒng)，c-Si 光伏電池測(cè)試系統(tǒng) : Chroma 58301高產(chǎn)能 - UPH : 1,500低破損率

3730 光伏電池自動(dòng)檢測(cè)及效率分級(jí)系統(tǒng)，適用于5吋及6吋單晶和多晶光伏電池高產(chǎn)能且可降低人為導(dǎo)致的破片

3775 光伏芯片擴(kuò)散制程上下貨及檢測(cè)系統(tǒng)，低破片率高產(chǎn)量機(jī)器人傳送取放表面檢查：選配上貨載具：石英晶舟下貨載具：Manz盒 / Cassette(選項(xiàng))

chroma 58301 c-Si光伏電池片測(cè)試系統(tǒng)，量測(cè)項(xiàng)目 : Eff, Pmpp, Impp, Vmpp, Isc, Voc, FF, Rshunt, Rs, Irev.完整四象限電源,供亮光正向/反向與暗光正向/反向測(cè)試